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ET200F涂層測(cè)厚儀標(biāo)配主機(jī)、 探頭 、5片校準(zhǔn)片 、基體 、 說明書。
德國菲希爾MPO涂層測(cè)厚儀 應(yīng)用于工業(yè)，科研及所有的工程領(lǐng)域。能滿足您不同環(huán)境的實(shí)驗(yàn)需求。
PC-LEPTOSKOP2050智能型涂層測(cè)厚儀 是KARL DEUTSCH 公司提供膜層測(cè)厚裝置的探頭，它可和普通PC的串口線相連。
LEPTOSKOP2042FE/NFE統(tǒng)計(jì)數(shù)據(jù)型涂層測(cè)厚儀 具有精準(zhǔn)的測(cè)量技術(shù)和簡(jiǎn)單的操作方法，是萬能的涂層測(cè)厚儀。通過解鎖代碼，可以使儀器在現(xiàn)場(chǎng)迅速的升級(jí)。- LEPTOSKOP2042FE/NFE基本型涂層測(cè)厚儀 具有精準(zhǔn)的測(cè)量技術(shù)和簡(jiǎn)單的操作方法，是萬能的涂層測(cè)厚儀。通過解鎖代碼，可以使儀器在現(xiàn)場(chǎng)迅速的升級(jí)。
Pocket-LEPTOSKOP2018涂層測(cè)厚儀 利用渦流法（DIN EN ISO 2360）測(cè)量非鐵磁材料上覆蓋的非導(dǎo)電層厚度，例如：鋁，銅，青銅等。
